cwe - 1296:不正确的链接或者调试组件的粒度
描述
扩展描述
芯片的调试和故障排除,一些硬件设计元素往往是实现,包括:
- 各种测试访问端口(水龙头)允许边界扫描命令被执行。
- 扫描一个芯片的内部组件,有扫描细胞,使芯片作为一个“刺激和反应”机制。
- 芯片制造商可能创建自定义的方法来观察其芯片的内部组件,通过将各种跟踪中心在其芯片和创建层次或互连结构中心。
逻辑错误在设计或合成可能错误地配置调试的互连组件,它可以让意想不到的访问权限。
的关系
模式的介绍
不同模式的引入提供了信息如何以及何时可以纳入这一弱点。生命周期的阶段识别点的介绍可能发生,而相关的报告提供了一个典型的场景介绍在给定的阶段。
常见的后果
这个表指定不同的个人相关后果的弱点。标识应用程序范围的安全领域侵犯,而影响了负面的技术影响,如果敌人成功利用这个弱点。可能提供的信息如何可能的具体结果预计将看到列表中相对于其它后果。例如,可能会有高可能性,缺点将被利用来实现一定的影响,但较低的可能性,它将被利用来实现不同的影响。
范围 |
影响 |
可能性 |
保密 完整性 访问控制 身份验证 授权 可用性 问责制
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技术的影响:获得特权或假设的身份;旁路保护机制;执行未经授权的代码或命令;修改内存;修改文件或目录
根据访问调试组件(s)错误,攻击者可以使用调试组件来获得更多的了解该系统进一步的攻击和/或执行其他命令。这可能会妥协任何安全属性,包括上面列出的。 |
媒介 |
示范例子
示例1
下面的例子显示了如何攻击者可以利用错误的链接或失踪调试组件的粒度。
在芯片系统(SoC),用户可以访问SoC-level利用具有一定程度的授权。然而,这种访问不应该还授权访问的所有内部阀门(如核心)。另外,如果任何内部水龙头也缝水龙头链时不应因逻辑错误,攻击者可以访问内部阀门和执行命令。
作为一个相关的例子,假设有一个水龙头的层次结构(TAP_A连接到TAP_B TAP_C,然后TAP_B连接到TAP_D TAP_E,然后TAP_C连接到TAP_F TAP_G,等等)。架构要求凭据的用户有一个设置访问TAP_A,另一组凭据访问TAP_B TAP_C,等等。但是,如果在实现中,设计者错误地实现了一个计算机利用所有的水龙头连接在一个单一的点击链没有层次结构,正确的调试组件粒度不实现,攻击者可以获得未经授权的访问。
观察到的例子
参考 |
描述 |
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不正确的访问控制在RDP一级意法半导体STM32F0系列设备允许身体存在攻击者提取设备的保护固件通过一系列特殊的串行线调试门限)命令,因为有一个门限的全部初始化界面之间的竞争条件和flash的设置保护。 |
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在几个智能手机有一个授权不当漏洞。系统有logic-judging错误,在某些场景中,一个成功的利用可以让攻击者转向第三桌面经过一系列的操作在ADB模式。(脆弱性ID: hwpsirt - 2019 - 10114)。 |
潜在的缓解措施
实施阶段:
确保正确连接和调试组件粒度是维持在不同的身份验证级别。 |
检测方法
体系结构或设计审查
适当授权各级Post-Si测试应进行以确保调试组件链接对用户,只能适当的凭证。
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动态分析与人工解释结果
适当授权各级Post-Si测试应进行以确保调试组件链接对用户,只能适当的凭证。
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脆弱性映射笔记
用法:允许
(CWE ID可以用来映射到现实世界的漏洞) |
原因:可接受的使用 |
理由是: 这CWE条目底部的抽象级别,这是一个首选的抽象级别映射到漏洞的根本原因。 |
评论: 仔细阅读这两个名称和描述,以确保此映射是一个适当的配合。不要试图“力”映射到底层基础/变体只是遵守这首选的抽象级别。 |
笔记
维护
这个条目仍处于开发阶段,将继续看到更新和内容的改进。
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