cwe - 1319:电磁防护不当故障注入(EM-FI)
视图定制的信息:
的用户感兴趣的更多的概念方面的一个弱点。例如:教育者,技术作家和项目/项目经理。
用户关心的实际应用和细节的本质弱点以及如何预防它的发生。例子:工具开发人员、安全人员、pen-testers事件反应分析师。
对于用户映射一个问题CWE / CAPEC id,即。,找到最合适的CWE为一个特定的问题(例如,CVE记录)。例如:工具开发人员、安全人员。
用户希望看到所有可用的信息CWE / CAPEC条目。
为用户谁想要定制显示细节。
 描述扩展描述的关系 此表显示了弱点和高水平类别相关的这一弱点。这些关系被定义为ChildOf、ParentOf MemberOf,并洞察类似项目可能存在的在较高和较低的抽象级别。此外,关系如PeerOf和CanAlsoBe定义显示类似的弱点,用户可能想要探索。
相关的视图”研究概念”(cwe - 1000)
此表显示了弱点和高水平类别相关的这一弱点。这些关系被定义为ChildOf、ParentOf MemberOf,并洞察类似项目可能存在的在较高和较低的抽象级别。此外,关系如PeerOf和CanAlsoBe定义显示类似的弱点,用户可能想要探索。
相关观点“硬件设计”(cwe - 1194)
模式的介绍不同模式的引入提供了信息如何以及何时可以纳入这一弱点。生命周期的阶段识别点的介绍可能发生,而相关的报告提供了一个典型的场景介绍在给定的阶段。
适用的平台该清单显示了给定的弱点可以可能的地区出现。这些可能是为特定命名的语言,操作系统,架构、模式、技术、或一个类这样的平台。列出的平台是随着频率的出现疲态实例。
语言 类:不是特定于语言的患病率(待定) 操作系统 类:不使用患病率(待定) 体系结构 类:不是特定于体系结构的患病率(待定) 技术 类:系统芯片患病率(待定) 单片机的硬件患病率(待定) 内存硬件患病率(待定) 电源管理硬件患病率(待定) 处理器硬件患病率(待定) 测试/调试硬件患病率(待定) 传感器硬件患病率(待定) 常见的后果这个表指定不同的个人相关后果的弱点。标识应用程序范围的安全领域侵犯,而影响了负面的技术影响,如果敌人成功利用这个弱点。可能提供的信息如何可能的具体结果预计将看到列表中相对于其它后果。例如,可能会有高可能性,缺点将被利用来实现一定的影响,但较低的可能性,它将被利用来实现不同的影响。
示范例子潜在的缓解措施会员资格这MemberOf关系表显示额外CWE类别和视图引用这个弱点作为成员。这些信息通常是有用的在理解一个弱点符合外部信息源的上下文中。
脆弱性映射笔记笔记相关的攻击模式引用内容的历史
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