描述
扩展描述
硬件电路,半导体硅热的副作用,这样的一些设备消耗的能量会转化成热量消散,增加设备的温度。例如,在半导体硅的频率更高的运营结果更高的功耗和热。CMOS电路的泄漏电流随温度增加,这创造了积极的反馈,会导致热失控和永久损坏设备。
任何设备缺乏保护,如热传感器,足够的平台冷却或保温是容易受到恶意软件的攻击,可能故意操作模式的设备导致过热。这可以作为一个有效的拒绝服务(DoS)或永久拒绝服务攻击(pdo)。
根据硬件设备及其预期使用的类型,这种热过热也会引起安全隐患和可靠性问题。注意,电池故障也可能导致设备过热但是移植和示例包含在这个提交不能可靠地防止电池故障。
可以有类似的缺点缺乏基于过电压或过电流条件免受攻击。然而,热的热量是由硬件操作和设备应该实现过热保护。
的关系
模式的介绍
不同模式的引入提供了信息如何以及何时可以纳入这一弱点。生命周期的阶段识别点的介绍可能发生,而相关的报告提供了一个典型的场景介绍在给定的阶段。
阶段 |
请注意 |
架构和设计 |
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实现 |
这些问题可以在硬件架构,介绍设计或实现。 |
常见的后果
这个表指定不同的个人相关后果的弱点。标识应用程序范围的安全领域侵犯,而影响了负面的技术影响,如果敌人成功利用这个弱点。可能提供的信息如何可能的具体结果预计将看到列表中相对于其它后果。例如,可能会有高可能性,缺点将被利用来实现一定的影响,但较低的可能性,它将被利用来实现不同的影响。
示范例子
示例1
恶意软件运行在一个核心可以执行指令,使用最大功率或增加核心频率。这样一个power-virus程序可以在平台上执行一个长时间过热,造成永久性的伤害。
执行核心,平台不支持热传感器,性能节流或platform-cooling对策以确保任何软件系统上执行不能引起过热过去的最大允许温度。
平台和SoC应该失效保护热限制所执行的热传感器,在检测到高温时触发临界温度警报。在检测高温,平台应该触发冷却或自动关闭。
潜在的缓解措施
阶段:体系结构和设计
温度应该最大和最小限制强制使用热传感器在硅和在平台层面。 |
实施阶段:
平台应该支持冷却解决方案,比如球迷可以调制基于设备操作需要保持一个稳定的温度。 |
检测方法
动态分析与人工解释结果
动态测试应该执行压力测试温度控制。
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体系结构或设计审查
电源管理控制应该是架构和设计审查的一部分。
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会员资格
这MemberOf关系表显示额外CWE类别和视图引用这个弱点作为成员。这些信息通常是有用的在理解一个弱点符合外部信息源的上下文中。
脆弱性映射笔记
用法:允许
(CWE ID可以用来映射到现实世界的漏洞) |
原因:可接受的使用 |
理由是: 这CWE条目底部的抽象级别,这是一个首选的抽象级别映射到漏洞的根本原因。 |
评论: 仔细阅读这两个名称和描述,以确保此映射是一个适当的配合。不要试图“力”映射到底层基础/变体只是遵守这首选的抽象级别。 |
引用
更多的信息是可用的,请编辑自定义过滤器或选择一个不同的过滤器。
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